頻率元件石英晶振系列跟大多數(shù)電子元件，器件一樣，都會(huì)有一定的老化過(guò)程。就說(shuō)晶振方面，本身是屬于頻率元件，隨著時(shí)間越久頻率就會(huì)相差越大，一般情況下石英晶振本身的偏差大概是在1年5ppm的范圍。這樣的偏差還是正常環(huán)境中的正常誤差，有個(gè)別一些環(huán)境誤差相對(duì)來(lái)說(shuō)就會(huì)更大了，比如在極冷的天氣和到炎熱的環(huán)境頻率的誤差相對(duì)就會(huì)比較大。
石英晶振頻率的老化率：在恒定的環(huán)境條件下測(cè)量頻率時(shí)，振蕩頻率和時(shí)間之間的關(guān)系。這種長(zhǎng)期頻率漂移是由石英晶體元件和振蕩器電路元件的緩慢變化造成的，因此，其頻率偏移的速率叫老化率，可用規(guī)定時(shí)限后的最大變化率（如±10ppb/天，加電72小時(shí)后），或規(guī)定的時(shí)限內(nèi)最大的總頻率變化（如：±1ppm/（第一年）和±5ppm/（十年））來(lái)表示。
　　晶振老化是因?yàn)樵谏a(chǎn)石英晶體的時(shí)候存在應(yīng)力、污染物、殘留氣體、結(jié)構(gòu)工藝缺陷等問(wèn)題。應(yīng)力要經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的變化才能穩(wěn)定，一種叫“應(yīng)力補(bǔ)償”的晶體切割方法（SC切割法）使晶體有較好的特性。

　　污染物和殘留氣體的分子會(huì)沉積在晶體片上或使晶體電極氧化，振蕩頻率越高，所用的晶體片就越薄，這種影響就越厲害。這種影響要經(jīng)過(guò)一段較長(zhǎng)的時(shí)間才能逐漸穩(wěn)定，而且這種穩(wěn)定隨著溫度或工作狀態(tài)的變化會(huì)有反復(fù)——使污染物在晶體表面再度集中或分散。因此，頻率低的晶振比頻率高的晶振、工作時(shí)間長(zhǎng)的晶振比工作時(shí)間短的晶振、連續(xù)工作的晶振比斷續(xù)工作的晶振的老化率要好?！?br /> 　　說(shuō)明：TCXO的頻率老化率為：±0.2ppm～±2ppm（第一年）和±1ppm～±5ppm（十年）（除特殊情況，TCXO很少采用每天頻率老化率的指標(biāo)，因?yàn)榧词乖趯?shí)驗(yàn)室的條件下，溫度變化引起的頻率變化也將大大超過(guò)溫度補(bǔ)償晶體振蕩器每天的頻率老化，因此這個(gè)指標(biāo)失去了實(shí)際的意義）。OCXO的頻率老化率為：±0.5ppb～±10ppb/天（加電72小時(shí)后），±30ppb～±2ppm（第一年），±0.3ppm～±3ppm（十年）。
　短穩(wěn)：短期穩(wěn)定度，觀察的時(shí)間為1毫秒、10毫秒、100毫秒、1秒、10秒。
　KDS晶振的輸出頻率受到內(nèi)部電路的影響(晶體的Q值、元器件的噪音、電路的穩(wěn)定性、工作狀態(tài)等)而產(chǎn)生頻譜很寬的不穩(wěn)定。測(cè)量一連串的頻率值后，用阿倫方程計(jì)算。相位噪音也同樣可以反映短穩(wěn)的情況(要有專(zhuān)用儀器測(cè)量)。

　　重現(xiàn)性：定義：晶振經(jīng)長(zhǎng)時(shí)間工作穩(wěn)定后關(guān)機(jī)，停機(jī)一段時(shí)間t1(如24小時(shí))，開(kāi)機(jī)一段時(shí)間t2(如4小時(shí))，測(cè)得頻率f1，再停機(jī)同一段時(shí)間t1，再開(kāi)機(jī)同一段時(shí)間t2，測(cè)得頻率f2。重現(xiàn)性=(f2-f1)/f2。
　　頻率壓控范圍：將頻率控制電壓從基準(zhǔn)電壓調(diào)到規(guī)定的終點(diǎn)電壓，晶體振蕩器頻率的最小峰值改變量。
　說(shuō)明：基準(zhǔn)電壓為＋2.5V，規(guī)定終點(diǎn)電壓為＋0.5V和＋4.5V，壓控振蕩器在＋0.5V頻率控制電壓時(shí)頻率改變量為-2ppm，在＋4.5V頻率控制電壓時(shí)頻率改變量為＋2.1ppm，則VCXO電壓控制頻率壓控范圍表示為：≥±2ppm(2.5V±2V)，斜率為正，線(xiàn)性為+2.4%。
　壓控頻率響應(yīng)范圍：當(dāng)調(diào)制頻率變化時(shí)，峰值頻偏與調(diào)制頻率之間的關(guān)系。通常用規(guī)定的調(diào)制頻率比規(guī)定的調(diào)制基準(zhǔn)頻率低若干dB表示。
　說(shuō)明：有源晶振VCXO頻率壓控范圍頻率響應(yīng)為0～10kHz。
　頻率壓控線(xiàn)性：與理想（直線(xiàn)）函數(shù)相比的輸出頻率-輸入控制電壓傳輸特性的一種量度，它以百分?jǐn)?shù)表示整個(gè)范圍頻偏的可容許非線(xiàn)性度。
　說(shuō)明：典型的VCXO頻率壓控線(xiàn)性為：≤±10%，≤±20%。簡(jiǎn)單的VCXO頻率壓控線(xiàn)性計(jì)算方法為(當(dāng)頻率壓控極性為正極性時(shí))：
　　頻率壓控線(xiàn)性＝±((fmax-fmin)/ f0)×100%
　　fmax：VCXO在最大壓控電壓時(shí)的輸出頻率
　　fmin：VCXO在最小壓控電壓時(shí)的輸出頻率
　　f0：壓控中心電壓頻率
　單邊帶相位噪聲￡(f)：偏離載波f處，一個(gè)相位調(diào)制邊帶的功率密度與載波功率之比。
　輸出波形：從大類(lèi)來(lái)說(shuō)，輸出波形可以分為方波和正弦波兩類(lèi)。
　方波主要用于數(shù)字通信系統(tǒng)時(shí)鐘上的，表晶體，32.768KHZ對(duì)方波主要有輸出電平、占空比、上升/下降時(shí)間、驅(qū)動(dòng)能力等幾個(gè)指標(biāo)要求。
隨著現(xiàn)在高科技技術(shù)迅速的發(fā)展，電話(huà)通信、衛(wèi)星導(dǎo)航，雷達(dá)和無(wú)線(xiàn)高速數(shù)傳等產(chǎn)品中，需要高精度的信號(hào)源作為日趨復(fù)雜的基帶信息的載波。因?yàn)橐粋€(gè)帶有寄生調(diào)幅及調(diào)相的載波信號(hào)（不干凈的信號(hào)）被載有信息的基帶信號(hào)調(diào)制后，這些理想狀態(tài)下不應(yīng)存在的頻譜成份（載波中的寄生調(diào)制）會(huì)導(dǎo)致所傳輸?shù)男盘?hào)質(zhì)量及數(shù)傳誤碼率明顯變壞。所以作為所傳輸信號(hào)的載體，載波信號(hào)的干凈程度（頻譜純度）對(duì)通信質(zhì)量有著直接的影響。對(duì)于正弦波，通常需要提供例如諧波、噪聲和輸出功率等指標(biāo)。
當(dāng)然相關(guān)的傳輸速度，以及無(wú)線(xiàn)通話(huà)，衛(wèi)星導(dǎo)航的發(fā)射接收，很多方面靠的還是聲表面濾波器的濾波效果，當(dāng)一些比較高端的無(wú)線(xiàn)發(fā)射接收故障或者不穩(wěn)定時(shí)，很多時(shí)候都是跟濾波有一定的箱關(guān)聯(lián)。
作者：晶振帝國(guó)

正在載入評(píng)論數(shù)據(jù)...

上一篇：內(nèi)部結(jié)構(gòu)晶振常見(jiàn)知識(shí)

下一篇：高端智能數(shù)碼產(chǎn)品內(nèi)部都使用了什么晶振？

此文關(guān)鍵字：晶振老化頻率石英晶振資料石英晶體諧振器老化資料

姓名：
郵箱：
驗(yàn)證：
正文：

歡迎光臨：深圳市康華爾電子有限公司

資訊中心

晶振官方博客

相關(guān)老化晶振資料

相關(guān)資訊